GE检测控制技术将亮相第22届多国仪器仪

　　第22届多国仪器仪表学术会议暨展览会(MICONEX2011)将于2011年8月 0日-9月2日在北京中国国际展览中心(老馆)隆重召开。GE检测控制技术将在本届展会上再次闪亮登场 (展台位8A022)，展示GE 在传感技术, 测量、无损检测、状态监测和自动化控制领域的优秀产品和领先技术，GE已连续多年参加多国仪器仪表学术会议暨展览会。

　　由于中国市场仪器仪表行业的快速增长，对高精度，高可靠性的测控产品的需求旺盛。GE 检测控制技术在此次展会上将展示最新推出的多款高科技产品： 旗下德鲁克系列UNIK5000是采用模块式设计和精益的硅制造技术制成并可根据客户实际系统设计需求，为客户提供定制服务的压力传感器其灵活性，通用性，准确性和可靠性，广泛适用于石油天然气，交通轨道，航空，造船，和测试设备行业 ；最新款的 DPI620是一站式移动校验仪系统, 集成Hart抄送，多信号校验（压力、电信号、温度、频率）于一体，显著减少用户配置设备的数量，简化培训和提高操作安全性以及减少用户成本等特点，广泛应用于仪表安装、测试、热工维护和校准，系统测试和监控，显示仪、记录仪和控制器测试，过程回路设置及诊断以及开关、继电器和安防系统测试等方面；GE ADTS 系列，是为民用航空设计的高可靠、紧凑型、高精度的大气数据测试系统，其坚固紧凑的设计汇集GE不断研究开发的新技术、用户的反馈信息以及千万台自动压力控制器的生产经验，由此使ADTS在性能、可维护性和操作简便方面达到了精湛、完善的程度，主要应用于国内和国际民用航线维护，航空飞行仪表制造，飞机制造，航空地面支持，航空母舰等领域；GE Nova数字调理压力传感器，体积小，精度高，带有压力温度双重输出，对当前许多需要即装即用，无需繁复校准的应用是一个经济有效的理想方案。此外，目前全球科技领先的Bently Nevada 振动状态监测系列，多款便携式无损检测设备，GE MEMS, 红外线，二氧化碳传感器等也会一起亮相展会。

　　各领域的优秀产品、系统和先进技术以及丰富充实的产品演示将让您饱览GE 的检测控制世界。届时，我们的工程师和产品经理将为您作现场讲解和演示进行现场交流。

　　GE 检测控制技术将继续坚持以技术为先导，持续传递更多价值，以技术领先的产品，更专业的服务，为客户提供精确，高效，安全的解决之道。

　　我们真诚期待着您光临我们的展位，共同体验我们与客户共同成长的理念！